系统简介：
BJ2936晶体管综合参数测试仪采用主从式设计，配备大液晶显示器，可以独立工作；也可以使用计算机控制操作，使用更加方便；计算机与测试仪采用串行通信方式，并预留USB接口,使计算机不再受主板是否有AISA插槽的限制。在计算机上编写测试程序、显示程序，使软件界面更加友好，用户操作更加直观、方便。设置测试条件、测试流程控制、显示、打印等功能由计算机完成。
新测试仪具有自动判别晶体管极性的功能，根据被测管的极性加载测试条件，该仪器具有连续测试、跳跃测试、单参数测试以及晶体管的筛选四种工作方式；还可以储存不同型号晶体管的测试条件，用户再次测试曾测过的管子时不再需要重新输入测试条件。
系统在测试原理和方法上符合我国的国标、国军标和行标对集电极-发射极饱和压降、基极-发射极饱和压降和正向电流传输比等参数采用软件闭环的300uS脉冲测试，电流可达20A，可有效抑制测试造成的器件芯片温升，即使在上百瓦功率下进行测试也不会造成器件发热，从而确保测试数据的真实性和稳定性，同时也保证了被测器件的安全。系统全线采用开尔文四端法进行参数测试，从而有效扣除了系统及接触环节的接触压降，保证了大电流参数测试的真实性和精度。仪器高压源以通用运算放大器为基础，附加输出电压幅度提升电路进而获得稳定千伏级输出。系统提供TO-220、TO-3、TO-39等多种标准封装形式的测试适配器。
（一）、源的指标
电压源 (VC)
加压：
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设定范围（V）
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精确度
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-5~5
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±(12.2mV+0.25%set)
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±(5~10)
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±(24.4mV+0.25%set)
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±(10~20)
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±(48.8mV+0.25%set)
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±(20~30)
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±(97.6mV+0.25%set)
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测流：
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测量范围
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精确度
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±(0-20)uA
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±(30.5nA+0.25%Rdg)
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±(20-200) uA
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±(305nA+0.25%Rdg)
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±(0.2-2) mA
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±(3.05uA+0.25%Rdg)
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±(2-20) mA
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±(30.5uA+0.25%Rdg)
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±(20~200) mA
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±(305uA+0.25%Rdg)
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±(0.2~2)A（脉冲）
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±(3.05mA+0.25%Rdg)
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±(2-20)A（脉冲）
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±(30.5mA+0.25%Rdg)
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高压源（HV）
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设定范围（V）
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精确度
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30~1000
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±(1.22V+0.25%set)
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程控恒流源(IB)
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设定范围
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精确度
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±(0~20) uA
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±(30.5nA+0.25%set)
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±(20~200) uA
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±(305nA+0.25%set)
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±(0.2~2) mA
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±(3.05uA+0.25%set)
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±(2~20) mA
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±(30.5uA+0.25%set)
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±(20~200) mA
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±(305uA+0.25%set)
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±(0.2~2)A(脉冲)
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±(3.05mA+0.25%set)
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程控电流源(IC)
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设定范围
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精确度
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±(0~20) uA
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±(30.5nA+0.25%set)
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±(20~200) uA
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±(305nA+0.25%set)
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±(0.2~2) mA
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±(3.05uA+0.25%set)
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±(2~20) mA
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±(30.5uA+0.25%set)
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±(20~200) mA
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±(305uA+0.25%set)
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±(0.2~2)A(脉冲)
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±(3.05mA+0.25%set)
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±(2-20)A（脉冲）
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±(30.5mA+0.25%set)
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（二）、电压表的指标
测漏电流
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测量范围
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精确度
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(0~200)nA
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±(305pA+0.25%Rdg)
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(0.2-2)uA
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±(3.05nA+0.25%Rdg)
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(2-20)uA
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±(30.5nA+0.25%Rdg)
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(20~200) uA
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±(305nA+0.25%Rdg)
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(0.2~2)mA
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±(3.05uA+0.25%Rdg)
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(2-10)mA
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±(30.5uA+0.25%Rdg)
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测饱和压降VBE（SAT）、
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设定范围（V）
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精确度
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0~2.5
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±(3mV+0.25%Rdg)
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测饱和压降VCE（SAT）
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设定范围（V）
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精确度
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0~2.5
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±(3mV+0.25%Rdg)
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测击穿电压
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设定范围（V）
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精确度
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（0~30）V/10mA
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±(7.3mV+0.25%Rdg)
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（30~1000）V/10mA
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±(244mV+0.25%Rdg)
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