2.2存储器

 

 

在线测试仪能够对存储器件库中的器件，进行功能好坏的测试，并且能够测试几个主要直流参数是否满足要求。目前器件库中主要包括：读写存储器SRAM、DRAM；只读存储器PROM、EPROM、EEPROM。

 

 

对于未包括在器件库中的，首先需要添加到器件库中，然后进行同样测试。

 

 

在参数测试中，测试的参数类型、设置方法、测试结果的显示均与逻辑器件的参数测试相同。请参见2.1。但有一个例外：当只读存储器中的内容不能保证每个输出脚都有“高”和“低”输出状态时，与缺少状态相关的参数不能测试。由此可知，当只读存储器为空的时候不能进行参数测试；

 

 

对存储器的功能测试方式：

 

 

a. 只读存储器：PROM、EPROM：

 

 

1）空检测;

 

 

2）读出内容并存放在计算机中;

 

 

3）读出内容并且和事先存放在计算机中的内容相比较；

 

 

4）将存放在计算机中的内容转换成可供编程器使用的二进制文件。

 

 

b. 读写存储器：SRAM、DRAM

 

 

    1）写入-读出检测；

 

 

2）读出内容并存放在计算机中;（此功能针对电池支持的存储器）

 

 

3）将存放在计算机中的内容写入存储器；（此功能针对电池支持的存储器）

 

 

2.3 光耦

 

 

在线测试仪能够对光耦器件库中的器件, 进行功能好坏的测试，并且能够测试几个主要直流参数是否满足要求。目前器件库中主要包括有4N、CNY、IL、PC、PS、FSH、TLP系列约500种光耦器件。

 

 

对于未包括在测试器件库中的，根据具体情况不同，有不同的测试办法。

 

 

2.3.1 能够测试的直流参数

 

 

UF：二极管最大正向电压

 

 

给二极管注入指定大小的电流时，二极管上的最大电压；

 

 

UCES：三极管最大饱和电压

 

 

向二极管注入、三极管流入指定大小的电流时，三极管c-e之间的最大电压；

Iceo： 三极管最大漏电流

 

 

输入电流为0，在指定电压下，漏入三极管的电流。

 

 

CTR：电流传输比

 

 

向二极管注入、三极管流入指定大小的电流时，输出、输入电流之比：

 

 

CTR=输出电流/输入电流X100%

2.3.2 设置测试参数

 

 

在线的光藕器件库中，输入了手册规定的参数值。与2.1.2中所述同样的原因，为了用户可以在自己设定的设计余量范围挑选器件，也允许用户设置自选的测试参数。参见下图所示的设置参数窗口：

 

明说如下：

UF：给二极管注入20毫安电流，二极管上的最大电压不大于1.4伏；

 

 

UCES：在二极管20毫安，三极管1毫安电流时，三极管的最大饱和电压不大于0.2伏；

Iceo：二极管不加信号，三极管集电极加20伏电压，漏入三极管的电流不大于0.0001毫安；

CTR：给二极管注入5毫安电流，在三极管集-射电压为5伏时，CTR不小于50。

2.3.2 测试过程

 

 

将被测器件放入测试座中，在测试界面上输入器件型号，用鼠标或回车键启动测试。测试仪按顺序检查各个参数。当一个参数超限时，不再进行下面的测试。

 

 

与逻辑器件的参数测试不同，测试光耦时只判断被测参数是否超限，而不报告具体测出的参数值。下图所示是对PC817的测试结果：

 

 

 

 

左下窗口给出测试结论。窗口中会把超限的参数显示出来，不超限的参数不显示。目前的汇能测试仪能够识别的最小电流为3微安，特别提示出来。

 

 

右边窗口的上面是PC817的转换曲线，下面列出参数测试条件和取值范围，请仔细观察，不再详述。

 

 

2.3.3 如何测试库中没有的器件

 

 

a. 有详细技术资料并且符合可测试类别

 

 

1）通过扩库功能，添加到光耦器件库后进行同样测试；

 

 

2）如果管脚分配和库中某个光耦完全一致，可按该型号进行测试。注意，两种光耦的参数可能不一致，在测试前要修改。

 

 

b．有详细资料但不符合可测试类别，或者封装特殊

 

 

目前测试软件的可测试类别只包括所谓“纯光藕”——不包括任何控制电平的光藕器件。对于非纯光藕器件，只要知道管脚分配，可按照下述办法测试：

 

 

1）  通过外接控制电平，将光耦设置在工作状态；（视具体情况而定）

 

 

2）在光耦测试主界面上选择“未知型号”，双击进入测试界面后，按照界面提示，用测试钩钩到相应管脚上；

 

 

3）按资料要求设置好测试参数即可进行测试。

 

 

c．没有资料或控制电路过于复杂

 

 

进行ASA测试。参见第3节。

 

 

2.4 运算放大器

 

 

目前的在线测试仪只能测试“电压型”运放。

 

 

在线测试仪能够对运放器件库中的器件, 进行功能好坏的测试。目前器件库中包括常用运放型号2000余种。

 

 

对于未包括在测试器件库中的，根据具体情况不同，有不同的测试办法。

 

 

2.4.1 测试原理

 

 

输入管脚“虚通”是运放的最基本的工作特征。“虚通”是依靠运放的“开环增益”保证的。只要“虚通”存在，运放就有一定的开环增益，从这个意义上说，只要“虚通”存在，运放的基本功能就是好的，据此，把测试“虚通”的有无定义为测试运放的功能好坏。

 

 

根据“虚通”的定义，我们把运放接成一个“跟随器”，在正输入端注入一个正弦测试信号。只要在测试信号的作用下，输出和正输入端的电位始终保持“一致”，就可以认为“虚通”存在。

 

 

为把“一致”量化，定义一个允差，只要输出和正输入端的电位曲线的误差落在允差范围内，就认为两者一致，否则判为不一致。允差的具体值，可以根据经验设定，或者通过测试多个样片确定。

 

 

2.4.2 测试过程

 

 

将被测器件放入测试座中，在测试界面上输入器件型号，用鼠标或回车键启动测试。下面是对LM324的测试结果显示：

 

 

 

左下窗口给出测试结论“未超差”。右边的测试曲线使用了错位显示方式。再下面是所使用的基本测试参数。

 

 

2.4.3 如何测试库中没有的器件

 

 

a. 有详细技术资料并且符合可测试类别

 

 

1）通过扩库功能，添加到运放器件库后进行同样测试；

 

 

2）如果管脚分配和库中某个运放完全一致，可按该型号进行测试。

 

 

b．有详细资料但封装特殊

 

 

在运放测试主界面上选择“未知型号”，双击进入测试界面后，按照界面提示，用测试钩钩到相应管脚上后进行测试。下面是使用测试钩的结果显示：

 

 

 

 

c．没有资料

 

 

进行ASA测试。参见第3节。