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数字集成电路测试仪---ICT33C
【来源】本站 【日期】2009/8/7
ICT-33C集成电路测试仪:
可测1300种器件.
可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,
器件代换查询,内部RAM数据修改,
EPROM、EEPROM器件读出写入.
功 能 参 数
主要功能
器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。
器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
内部RAM数据修改:ICT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
EPROM、EEPROM器件读入:ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。
EPROM、EEPROM器件写入:ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中,并自动校验。
 
 
 
 
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