ICT-33C集成电路测试仪:
可测1300种器件.
可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,
器件代换查询,内部RAM数据修改,
EPROM、EEPROM器件读出写入.
功 能 参 数
主要功能
器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
内部RAM数据修改：ICT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
EPROM、EEPROM器件读入：ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。
EPROM、EEPROM器件写入：ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。