集成电路（下称IC）的测试问题逐渐显露出来。苹果机数字集成电路测试（下称“数字IC测试”）卡，与苹果机一起构成所谓的“个人测试仪”，是这一时期最具代表性的数字IC功能测试仪之一。其实它完全是一种为了配合苹果机销售而制作的“业余测试”仪。它的出现使得计划经济体制下，许多希望购买计算机的单位，找到了购买计算机的借口；但真正希望对数字IC进行有效测试的单位，很快发现此类IC功能测试仪毫无使用   价值！然而，此种“业余测试”的数字IC测试仪依然传承至今，数字IC功能测试仪价格低廉是其得 以传承的主要原因。集成电路测试仪数字IC（直流参数）测试仪一般应该具备三个基本部分：测试图形发生器、管脚电路及各种测试所必备的测试基准源。它的特点是测试IC输入、输出端的电压、电流及电源端功耗电流，同时完成数字IC的真值表功能测试。集成电路测试仪数字IC功能测试仪的特点是：对数字IC仅仅进行真值表功能测试。由于数字IC功能测试仪，不具备直流参数测试的基础（无测试基准源等），因此只能进行一些简单的逻辑测试，即IC输出端的“0”、“1”测试，而“0”、“1”如何定义？当负载电流变化时“0”、“1”的变化范围是否合理？这些都无法确定，而这是IC测试者所关心的。集成电路测试仪 另一方面IC是由输入、输出及电源端组成，此三类端口在使用过程中是互相制约的相互影响的。由于功能测试仪不能对IC输入端及电源端测试（不测直流试参数），因此功能测试将产生严重问题.